비전 검사기
반도체 AP Chip 기능 및 성능시험장비
용 도
- 반도체 IC Functions 시험
기능(검사항목)
- 16 채널로 구성되며, 4채널씩 Rack 방식으로 구성됨.
- 각 Rack 별도로 분리하여 개별사용이 가능하도록 독립적으로 구성됨.
- 각종 Device Cutter 기능 제공(USB/Audio/HDMI 등)
- 통신모드설정 기능적용( UART/USB 모드 자동설정 등)
- 전원 공급 및 전압/전류 센싱 기능
- 온도제어 기능(테스트 칩셋의 온도테스트를 위한 시험환경 적용)
- 반도체 IC Functions 시험
기능(검사항목)
- 16 채널로 구성되며, 4채널씩 Rack 방식으로 구성됨.
- 각 Rack 별도로 분리하여 개별사용이 가능하도록 독립적으로 구성됨.
- 각종 Device Cutter 기능 제공(USB/Audio/HDMI 등)
- 통신모드설정 기능적용( UART/USB 모드 자동설정 등)
- 전원 공급 및 전압/전류 센싱 기능
- 온도제어 기능(테스트 칩셋의 온도테스트를 위한 시험환경 적용)